কেন আমরা প্রতিটি IR সেন্সরকে স্ট্রেস-টেস্ট করি? (যাতে আপনাকে এটা করতে না হয়)
আমরা, কোনো IR সেন্সরকে আমাদের কারখানা থেকে বের করার আগেই এর ভোল্টেজ-সহনশীলতা ও ইনসুলেশন রেজিস্ট্যান্স পরীক্ষা করি।
কেন? কারণ ওয়েফার উৎপাদনের ক্ষেত্রে একটি ছোট্ট ত্রুটিই বড় সমস্যা হয়ে দাঁড়ায়। এটা কন্ট্রোলার বোর্ডকে নষ্ট করতে পারে, অথবা পুরো ওয়েফার দলটিকেই ধ্বংস করতে পারে। আমরা “নমুনা পরীক্ষা” বা “পরিসংখ্যানগত গড়” নিয়ে চিন্তা করি না। আমরা প্রতিটি ইউনিটকেই পরীক্ষা করি।
পরীক্ষার পেছনের কারণ
মূলত, আমরা সেন্সরের ইনসুলেশন লেয়ারগুলোকে উচ্চ-ভোল্টেজের অধীনে পরীক্ষা করি। আমরা সেইসব ত্রুটিগুলো খুঁজি—যেগুলো চোখে দেখা যায় না; যেমন কোয়ার্টজ বা সিরামিক কভারের মধ্যে থাকা ক্ষুদ্র ফাটল বা অশুদ্ধি।
যদি কোভারে কোনো ছিদ্র থাকে, তাহলে কারেন্ট সেখান দিয়ে প্রবাহিত হবে। আমরা একে “লিকেজ কারেন্ট” বলি; আর এটাই আমরা খুঁজি। স্বাভাবিক অপারেটিং লিমিটের বাইরে ভোল্টেজ প্রয়োগ করার ফলে লুকানো ত্রুটিগুলো প্রকাশ পায়; আর এটা সেন্সরটি আমাদের হাতে থাকাকালীনই ঘটে।
পরিষ্কার ও নিরাপদ রাখা
এরপর ইনসুলেশন পরীক্ষা হয়। এটা হিটিং এলিমেন্ট ও গ্রাউন্ডেড চেসিসের মধ্যকার দূরত্ব নিয়ে।
আমরা উচ্চ মেগা-ওহম মানগুলো খুঁজি। এটাই হলো নিশ্চিত করার একমাত্র উপায় যে সেন্সরটি ওয়েফার স্টেজে কারেন্ট লিক করছে না। যখন ইনসুলেশন দৃঢ় থাকে, তখন কোনো অপ্রয়োজনীয় কারেন্ট সেন্সরের কাজে ব্যাঘাত ঘটায় না। যদি এই রেজিস্ট্যান্স কমে যায়, তাহলে সেন্সরের রিডিংগুলো ভুল হয়ে যায়।
সর্বোত্তম মান খোঁজা
সত্যি বলতে, এখানে একটি ভারসাম্য রয়েছে।
কঠোর পরীক্ষা করলে সেইসব ত্রুটিগুলো খুঁজে পাওয়া যায় যেগুলো শুরুতেই ব্যর্থ হয়ে যায়। কিন্তু যদি ভোল্টেজ খুব বেশি দেওয়া হয়, তাহলে ইনসুলেশন নষ্ট হয়ে যেতে পারে।
তাই আমরা আমাদের লিমিটগুলো ঠিক করতে অনেক সময় ব্যয় করি। এটা একটি ভারসাম্য বজায় রাখার ব্যাপার। আমরা চাই যেন প্রতিটি ত্রুটি খুঁজে বের হয়, কিন্তু সেন্সরটির দীর্ঘমেয়াদী কার্যকারিতা ক্ষতিগ্রস্ত না হয়।
অবশেষে, এর ফলে আপনি এমন একটি কম্পোনেন্ট পান যা আপনার পাওয়ার সাপ্লাইকে ক্ষতিগ্রস্ত করবে না। আমরা চাই যেন আপনার উৎপাদন লাইনে কোনো সমস্যা না হয়।