<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>Akurasi on Intense Infrared Heating Lamps</title>
		<link>http://ir-heat-fire.com/id/tags/akurasi/</link>
		<description>Recent content in Akurasi on Intense Infrared Heating Lamps</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>id</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Wed, 29 Jul 2026 09:58:04 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://ir-heat-fire.com/id/tags/akurasi/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>Sensor IR berketelitian tinggi untuk wafer</title>
				<link>http://ir-heat-fire.com/id/posts/dielectric-strength-and-insulation-testing-for-precision-wafer-ir-sensors/</link>
				<pubDate>Wed, 29 Jul 2026 09:58:04 +0800</pubDate>
				<guid>http://ir-heat-fire.com/id/posts/dielectric-strength-and-insulation-testing-for-precision-wafer-ir-sensors/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heat-fire.com/images/594cd14ba0fdce93f512a6ddf4ebf45d.png&#34; alt=&#34;Sensor IR berketelitian tinggi untuk wafer&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;&lt;strong&gt;Mengapa kami melakukan pengujian stres pada setiap sensor IR&lt;/strong&gt;&lt;br&gt;&#xA;Kami menguji setiap sensor IR untuk mengetahui seberapa besar tegangan yang dapat ditahan oleh sensor tersebut, serta tingkat resistansi isolasinya, sebelum sensor tersebut digunakan. Mengapa? Karena di pabrik pembuatan wafer, satu saja kerusakan kecil pada lapisan isolasi bisa berdampak buruk—bisa merusak papan kontrol atau seluruh batch wafer yang dibuat. Kami tidak tertarik pada metode pengujian sampel atau rata-rata statistik. Kami menguji setiap unit secara langsung.&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
