웨이퍼 경화 램프용 리플렉터

라인 상에서 포토레지스트 베이크의 반복성은 기준점이며, 여유는 없다. 웨이퍼 전체에서 몇 도의 온도 변화만으로도 0.1 μm 라인 폭 오차가 발생하고, 이는 모든 리소그래피 층에서 누적된다. 우리는 이러한 변동성을 제거하기 위해 웨이퍼 경화 램프용 리플렉터를 설계했다...