ウェーハ硬化ランプ用リフレクター

ライン上では、フォトレジストのベーク再現性が基準であり、余裕はない。ウェーハ全体で数度の温度変動があると、0.1 μmのライン幅誤差が発生し、それがリソグラフィーの各層を通じて累積していく。そこで、ウェーハ硬化用ランプのリフレクターを開発し、そのばらつきを抑制した。赤外線を安定したサブミリメートル...